Zref lar deg utføre to typer beregninger fra single-krystall diffraksjon målinger, for å kunne fastslå enhetscelleparametere. Hvis du har sentrert refleksjoner i 8 posisjoner på diffractometer med zref kommandoen i Single programvare, blir de endelige omega profiler lagret i en RFL fil. Refleksjons profiler som er lagret i denne filen kan deretter bli undersøkt av WinIntegrStp program, ombygget automatisk, og de ideelle topposisjonene og celleparametre kan bestemmes. Hvis du har problemer med peak former, vil den automatiserte prosessen mislykkes. Hvis dette skjer, kan du montere og integrere toppene for hånd i WinIntegrStp og lagre montert posisjoner i et integrert data eller int fil. Deretter bør du lese int filen i dette programmet, hvor du kan bestemme de korrigerte topposisjonene etter 8-posisjon metode, og avgrense unit-celleparametere. Programmet vil også lese matte filer generert av enkelt slik at du kan utføre minste rutene på topp liste uten å starte Enkelt.
Kommentarer ikke funnet